低发射、低敏感度技术 = Electromagnetic compatibility of integrated circuits :techniques for low emission and susceptibility /(法) Sonia Ben Dhia, Mohamed Ramdani, Etienne Sicard等编著 王洪博, 孙倩, 李炜等译
ISBN/ISSN:978-7-121-10579-1
价格:CNY49.00
出版:北京 电子工业出版社 ,2010
载体形态:280页 图 ;26cm
丛编:国外电子与通信教材系列
简介:本书的宗旨是综述集成电路的电磁兼容现象,介绍最新的EMC测量方法和EMC建模方法。本书给出了集成电路辐射和敏感度的历史与现状、基本概念及原理,并通过各种案例给出了详细的建模方法、测量方法,以及一些企业和科研实验室的仿真与测量结果,有助于集成电路和电子系统设计人员减少IC和电子系统的寄生发射,以及对射频干扰的敏感度。
统一题名:Electromagnetic compatibility of integrated circuits : techniques for low emission and susceptibility
其他题名:低发射低敏感度技术
中图分类号:TN402-43
责任者:齐亚 ((Dhia, Sonia Ben)) 编著 Ramdani, ,Mohamed 编著 西卡尔 ((Sicard, Etienne)) 编著 王洪博 译 孙倩 译 李炜 译
豆瓣内容简介:
《集成电路的电磁兼容:低发射·低敏感度技术》的宗旨是综述集成电路的电磁兼容现象,介绍最新的EMC测量方法和EMC建模方法。《集成电路的电磁兼容:低发射·低敏感度技术》给出了集成电路辐射和敏感度的历史与现状、基本概念及原理,并通过各种案例给出了详细的建模方法、测量方法,以及一些企业和科研实验室的仿真与测量结果,有助于集成电路和电子系统设计人员减少IC和电子系统的寄生发射,以及对射频干扰的敏感度。
《集成电路的电磁兼容:低发射·低敏感度技术》是在集成电路的EMC方面的专门的信息汇总,希望能够为广大集成电路电磁兼容的专家、学者、设计工程师、电子工程学爱好者提供帮助。
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目录:
第1章 集成电路电磁兼容的基本概念 1.集成电路的电磁兼容 1.1 芯片内的EMC 1.2 外部耦合的EMC 2.集成电路的电磁兼容测量基础 2.1 骚扰测量 2.2 抗扰度试验 3.IC的EMC模型 4.总结 5.参考文献第2章 历史与现状第3章 基础和理论——EMC现象的数学背景第4章 测量方法——集成电路的发射和敏感度第5章 EMC建模——集成电路中骚扰发射和抗扰度现象的建模概览第6章 案例研究——EMC测试芯片、低发射的微控制器第7章 准则——用于改进EMC的规程附录A 有用的相关表格附录B 术语集——用于集成电路电磁兼容领域的缩写
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A | 流通部 | 978587 | TN402-43/QY | 978587 | 在架可借 | |
A | 流通部 | 978588 | TN402-43/QY | 978588 | 在架可借 |
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